AppSec e Gestão Revisado em 24/07/2026

Guia visual: visão geral ASPM

Use a aba Visão Geral como ponto de partida para entender onde há maior urgência, onde o risco está concentrado e quais aplicações ou equipes precisam de atenção.

1. Comece pelos indicadores de ação imediata

Na parte superior, a Central destaca os achados críticos, altos e aplicações em risco. Use os filtros de escopo para alternar entre Todos, SAST, SCA, DAST e Container antes de tomar uma decisão.

A visão geral ajuda a priorizar rapidamente o que exige resposta agora e permite filtrar por tipo de análise.

2. Separe fila crítica de apoio operacional

Os cards de apoio operacional mostram exceções, itens vencidos, próximos do SLA, falsos positivos, corrigidos e achados sem idade. Use essa área para acompanhar a fila sem misturar tudo com os achados mais urgentes.

O apoio operacional organiza itens tratados, exceções e pendências de prazo para facilitar acompanhamento contínuo.

3. Acompanhe risco de fim de vida

A seção de ciclo de vida mostra aplicações com EOL, aplicações com EOL breve, cobertura média EOL e componentes fora do catálogo. Use esses indicadores para planejar atualização de componentes antes que o risco vire urgência.

O EOL apoia gestão preventiva de artefatos e componentes, não apenas alerta de item vencido.

4. Entenda onde o risco está concentrado

O mapa de concentração cruza severidade com tipo de análise. Ele ajuda a perceber se a maior exposição está em SAST, SCA, DAST ou Container, além de mostrar status operacional entre ativos, falsos positivos e corrigidos.

Use o mapa para escolher recortes de investigação e entender a distribuição dos achados por severidade e origem.

5. Identifique aplicações e equipes com maior risco

Os rankings mostram aplicações e equipes com maior concentração de achados. Essa visão ajuda a direcionar correções, cerimônias de acompanhamento, priorização com times e decisões de governança.

Os rankings ajudam a transformar a visão ASPM em plano de ação por aplicação ou equipe responsável.
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